SB100A/2四探針導體/半導體電阻率測量儀技術參數(shù) SB100A/2為原SB100/1及SB100A/1的改進型。 由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要，本儀器采用四探針法原理來實現(xiàn)對不同金屬、半導體、導電高分子材料的電阻及電阻率的測量?？捎糜诟咝Ｎ锢斫逃龑嶒灒瑢w/半導體/金屬薄膜材料的電阻 及電阻率的測試及研究。本產(chǎn)品的電阻測量范圍可達10-6—106Ω。 （使用環(huán)境5—40℃，相對濕度<80%，供電220V 50Hz，為實驗室環(huán)境使用） SB100A/2由SB118直流電壓電流源、PZ158A直流數(shù)字電壓表、SB120/2四探針樣品測試平臺三部分組成。 l SB118直流電壓電流源：是一臺4?位的電壓源及電流源，既可輸出5µV—50V，5檔可調電壓，基本誤差為±（0.1%RD+0.02%FS）又可輸出1nA—100mA，5檔可調電流，基本誤差為±（0.03%RD+0.02%FS）詳見本公司產(chǎn)品SB118。 l PZ158A直流數(shù)字電壓表：具有6?位字長，0.1μV電壓分辨力的帶單片危機處理技術的高精度電子測量儀器，可測量0-1000V直流電壓?；玖砍痰幕菊`差為±（0.002%RD+0.0005%FS），詳見本公司產(chǎn)品PZ158A。 l SB120/2四探針樣品測試平臺：該測試平臺是SB120/1測試平臺的改進型。其有底座、支架、旋動部件、樣品平臺、四探針及接線板等組成。由于其整個結構及旋動方式都在原SB120/1的基礎上作了很大的改進，故在高校的物理實驗及科學研究總為導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻和電阻率的測試、研究提供了較大的方便。 SB120/2型四探針樣品測試平臺是SB120/1測試平臺的改進型。其有底座、支架、旋動部件、樣品平臺、四探針及接線板等組成。由于其整個結構及旋動方式都在原SB120/1的基礎上作了很大的改進，故在高校的物理實驗及科學研究總為導體/半導體的電阻和電阻率的測試、研究提供了較大的方便。 尊敬的用戶：感謝您關注我們的產(chǎn)品，本公司除了有此產(chǎn)品介紹以外，還有真空度檢測儀，SF6微水檢測儀，真空開關動特性檢測儀，斷路器動特性檢測儀，高壓開關動特性檢測儀，串聯(lián)諧振耐壓試驗裝置，高低壓開關柜通電試驗臺，六相繼電保護檢測儀，靜電電壓表，三倍頻發(fā)生器,三倍頻感應耐壓裝置，超低頻耐壓試驗裝置，0.1HZ超低頻高壓發(fā)生器，硅橡膠高壓線，真空檢測儀,CT伏安特性檢測儀,變壓器變比檢測儀,礦用雜散電流檢測儀，高壓檢測儀,變頻介質損耗檢測儀等等，您如果對我們的產(chǎn)品有興趣，咨詢。謝謝！！ | 
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